最新一代的参数分析仪可以通过配置最大限度减少或消除很多与内部构建的BTI特征分析系统相关的缺陷。它们不是采用分离的脉冲或波形发生器与示波器，而是将这些功能组合在支持紧密时序协同的高……
——使用最新2651A型大功率数字源表实现高功率/高电流测量的应用套件 ……
——使用最新2651A型大功率数字源表实现高功率/高电流测量的应用套件 ……
· 波形发生[1]。标准脉冲发生器和任意波形发生器的设计是在固定循环间……
· 波形发生[1]。标准脉冲发生器和任意波形发生器的设计是在固定循环间……
· 波形发生[1]。标准脉冲发生器和任意波形发生器的设计是在固定循环间……
要想成为主流测试技术，下一代超快I-V测试[1]系统必须具有很宽的源与测量动态量程。这意味着它们必须能够提供对闪存器件进行特征分析所需的充足电压，以及处理最新的CMOS[2]工艺所……
要想成为主流测试技术，下一代超快I-V测试[1]系统必须具有很宽的源与测量动态量程。这意味着它们必须能够提供对闪存器件进行特征分析所需的充足电压，以及处理最新的CMOS[2]工艺所……
要想成为主流测试技术，下一代超快I-V测试[1]系统必须具有很宽的源与测量动态量程。这意味着它们必须能够提供对闪存器件进行特征分析所需的充足电压，以及处理最新的CMOS[2]工艺所……
与直流电流-电压（I-V）和电容-电压（C-V）测量一样，超快I-V测量[1]能力对于特征分析实验室中所有负责开发新材料、器件[2]或工艺的所有技术人员正变得越来越必要。进行超快I……
