仪器操作中繁琐的编程[1]工作以及神秘的种种细节会分散工作繁重的研究者的精力。许多电特性测量工具[2]都极为复杂，而且它们的数据传输机制极为冗琐，需要大容量的存储介质。图形分析所花……
对纳米元器件的电测量——电压、电阻和电流——都带来了一些特有的困难，而且本身容易产生误差。研发涉及量子水平上的材料与元器件，这也给人……
具有广泛且多样化应用的纳米科学技术[1]，推动着研究者不断运用碳纳米管[2]、化学分子、量子点、甚至聚合物研发出新的材料和元器件。对这些纳米尺度的元器件与材料进行的特性测量远非轻而……
具有广泛且多样化应用的纳米科学技术[1]，推动着研究者不断运用碳纳米管[2]、化学分子、量子点、甚至聚合物研发出新的材料和元器件。对这些纳米尺度的元器件与材料进行的特性测量远非轻而……
具有广泛且多样化应用的纳米科学技术[1]，推动着研究者不断运用碳纳米管[2]、化学分子、量子点、甚至聚合物研发出新的材料和元器件。对这些纳米尺度的元器件与材料进行的特性测量远非轻而……
超快I-V源和测量技术随着越来越多传统直流I-V测量功能的消失而迅速发展。注意到，传统SMU设计[1]能够提供和测量最高约1A的电流，最低约1皮安的电流。尽管增加远程前置放大器后最……
超快I-V源和测量技术随着越来越多传统直流I-V测量功能的消失而迅速发展。注意到，传统SMU设计[1]能够提供和测量最高约1A的电流，最低约1皮安的电流。尽管增加远程前置放大器后最……
超快I-V源和测量技术随着越来越多传统直流I-V测量功能的消失而迅速发展。注意到，传统SMU设计[1]能够提供和测量最高约1A的电流，最低约1皮安的电流。尽管增加远程前置放大器后最……
最新一代的参数分析仪可以通过配置最大限度减少或消除很多与内部构建的BTI特征分析系统相关的缺陷。它们不是采用分离的脉冲或波形发生器与示波器，而是将这些功能组合在支持紧密时序协同的高……
最新一代的参数分析仪可以通过配置最大限度减少或消除很多与内部构建的BTI特征分析系统相关的缺陷。它们不是采用分离的脉冲或波形发生器与示波器，而是将这些功能组合在支持紧密时序协同的高……
