C-V测量为人们提供了有关器件和材料特征的大量信息。
通用测试
电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和MOSFET结构。此外，利用C-V测……
您可以用CD随时观看9个下列主题的在线研讨会，无需网络连接，所有内容都在此方便使用的CD中：
•电气测量基础
•DMM：技术指标与应用
•开……
分立电阻器在最后的封装状态要进行单点通过/失败测试，这对确保产品符合制造商性能指标至关重要，而且可以在出货前识别劣质电阻器以及轻微不良的电阻器。通常要对电阻器进行两项测试：电阻器电……
4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境（KITE）软件，包含了两种测试模块：互动测试模块（ITM，Interactive TestModule）和用户测试……
4200-SCS 半导体特征化系统是一种高精度的测试仪，它包含了适合于半导体器件特征化的软硬件特性。该仪器是在一台PC机（个人电脑）的结构上构建的，它有一块主板，其上有主处理器、R……
应该使用4200-SCS型安全互锁的特点，以避免可能的电击伤害。该互锁机构提供了一个把42XX-SMU系统的输出电压自动置于安全状态的方法，无论4200-SCS的操作软件处于何种状……
为了避免测量误差，必须根据待测电阻器的阻值大小使用特定的测量技术。对于小电阻(<100Ω)测量，引线电阻和热电动势可能带来误差问题。当测量大电阻(>10M&……
在编写建立和执行公差带测试和电压系数测试程序时，这里有几个常用步骤需要遵守。在进行这些测试时，每个测试点都配置并存储在源存储单元中。源表内存允许存储高达100个完整的测试程序，而且……
1是基于2400数字源表的电阻器生产测试系统结构图，该系统用于连续进给电阻器并检定。
图1 基于2400数字源表的电阻器生产测试系统
注意，电阻……
