无限幻想

高工

今日你签到了吗?论坛动态

来自 论坛2012-06-22 17:02

对大功率半导体器件的需求将推动测试测量仪器的发展

目前,各种市场趋势正在推动和牵引着最新一代测试和测量仪器的发展。电子工业由包括半导体工业在内的诸多领域组成,这些领域正致力于提高能源效率,包括提高能源产生、传输和使用的效率。从传统……
来自 论坛2012-06-22 16:57

用2602数字源表创建可扩缩、多引脚、多功能的IC测试系统

吉时利2600系列数字源表提供了可扩展性和灵活性相结合的堆架式测量仪器的第四种选择方案,能实现基于主机系统的高集成度和高吞吐量。2600系列扩展了其上一代产品—&mda……
来自 论坛2012-06-22 16:53

掌握低电压测量

进行精密、准确的电压测量技术已为人们所熟知。但是当测量分辨率必须扩展到1微伏以下时,很多方法就达不到要求了,例如工业环境下温度、压力、力等物理参数的测量就属于这种情况。 请下……
来自 论坛2012-06-22 16:49

2657A高功率数字源表

无论您是从事研发、生产还是QA/FA,只有一款仪器能为您提供测试最新高功率器件和材料所需的功率、精度和速度。这款最新的2657A高压数字源表能: •源或阱高达300……
来自 论坛2012-06-22 16:43

用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试

开发IC让它能工作是一回事;而让它耐用就是另一回事了。随着新技术出现新的可靠性问题,后者变得越来越难。在封装之前,在晶圆上进行脉冲测试会有帮助。 请下载:用于半导体可靠性的短……
来自 论坛2012-06-22 16:41

改善太阳能电池的测试:加快开发和生产的关键

为了提高太阳能电池效率以及匹配分立电池用于电池板的构建,太阳能电池的开发和生产需要测试大量的材料和器件。因而,十分有必要进行快速测试,但是快速测试要求了解电池的实际结构和电池测量的……
来自 论坛2012-06-22 16:38

利用正向压降测量半导体结温

从集成电路中数以百万计晶体管到制造高亮度LED的大面积复合结,半导体结可能由于不断产生的热量而在早期发生故障。当特征尺寸缩小并且当所需电流增大的情况下,这会成为非常严重的问题,甚至……
来自 论坛2012-06-22 16:35

面向BTI特征分析的在运行中阈值电压测量

传统CMOS工艺缩放技术的发展正逐渐逼近极限,迫切需要采用新材料和新器件设计。随着这些新材料和新设计的出现,人们非常关注潜在失效机理,并需要进行更多的可靠性测试。诸如偏温不稳定性(……
来自 论坛2012-06-22 16:33

相变存储器:基本原理与测量技术

相变存储器(可缩略表示为PCM、PRAM或PCRAM)是一种新兴的非易失性计算机存储器技术。它可能在将来代替闪存,因为它不仅比闪存速度快得多,更容易缩小到较小尺寸,而且复原性更好,……
来自 论坛2012-06-22 16:28

圆片级1/f噪声的一种新测量方法

本文提出了一种新的可靠的圆片级1/f噪声测量方法和架构。所提出的测试架构采用了吉时利的系列仪器,包括4200-SCS、428和一个低通滤波器。其中采用了吉时利的自动特征分析套件(A……
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司