相比之下，纳伏表 具有1000倍高的输入阻抗（也就是10GΩ），因此它可以以±1%精度来测量高于1GΩ的电阻。（消除10GΩ的负载……
同样的技术，改善测量仪器的硬件。正如我们所看到的，锁定放大器法和直流反转法都是交流测量方法，这两种方法都可排除直流噪声[1]和高频噪声。然而，纳伏表及电流源组合可以在设备的整个电阻……
使用三个电压测量进行数学计算就可能去除热电动势[1]电压偏置项(VEMF)和热电动势电压变化项(δV)。首先，求出前两次电压测量差的一半，并称其为VA：
VA = (……
直流反转方法[1]则使用一个可反转极性的直流源，测试对象的响应则通过一个纳伏表来测量。
过去，直流反转监测法在大部分测量仪器上都需要手动操作，这将反转速度限制在低……
锁定放大器的一个替代方法是在电流信号上使用直流极性反转[1]的方法来消除噪声。这是消除偏移[2]和低频噪声[3]的一种完善技术。当今的直流源和纳伏表在降低噪声源的影响和缩短实现低噪……
在敏感伏安特性和电阻值的测量中，测试装置通常由两部分组成：电流源以及电压测试装置。研究人员使用锁定放大器测试法时一般选择传统电源，因为精密交流电流源在这里无法简单使用。
锁定放大……
外部噪声源[1]通常是马达、电脑显示屏或其它电子设备产生的干扰信号。这些噪声可以通过屏蔽和滤波、去除或关断噪声源来得到控制。这些噪声[2]源通常在电力线频率上，因此在进行锁定测量时……
当代研究人员必须测量极小的电流、电压的材料与器件的特性。比如纳米线、纳米管、半导体、金属、超导体和绝缘材料的电阻与伏安特性测量。许多这种应用中，为了避免测试对象的温升，必须保持很低……
多个HBLED器件的测试
老炼（burn-in）等应用需要对多个器件同时进行测量。
结的自加热[1]是HBLED生产测试中最主要的误差源之一。随着结温不断升高，……
元器件操控器将单个HBLED（或者一组HBLED）运送到一个测试夹具上，夹具可以屏蔽环境光，且内带一个用于光测量的光电探测器（PD）[1]。需要使用两个SMU：SMU#……
