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2005-12-22 20:57
下一代NSE架构面向Ipv6应用过渡
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2005-12-22 20:54
Intel65nm工艺成熟寻获漏电流解决办法
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2005-12-20 20:43
王阳元:中科院正进行45纳米工艺开发
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2005-12-20 20:42
波导手机数据线采用Silicon Labs的USB微控制器
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2005-12-16 16:28
应对百万门级系统级芯片验证挑战的可扩展解决方案
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2005-12-16 16:28
改善数据采集测量结果的四种常用校正方法
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2005-12-15 16:53
高可用性系统的硬件和软件设计模式
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2005-12-15 16:53
Post-layout分析应对纳米设计挑战
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2005-12-13 19:16
对蓝牙产品开发成败有重要影响的关键测试技术规范
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2005-12-13 19:15
确定助焊剂残余物的探针可测性
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