电缆要求
虽然数字多用表常常使用无屏蔽的测试引线，但是这种连接方式在使用皮安计、静电计和SMU等进行低电平测量时一般是不合适的。这些仪器通常使用同轴电缆或三同轴电缆。
同轴电……
静电计、皮安计和SMU的测量工作中使用两种通用类型的连接器。图2-55所示的BNC连接器是一种同轴连接器。它包括中心导体和外壳或屏蔽连接，而图2-56所示的三同轴连接器则包括中心导……
如前所述，当我们把保护电压连到同轴电缆的屏蔽时，如果该保护电压大于30V有效值，就可能出现安全风险。三同轴电缆用连至大地或LO端的外层屏蔽将保护屏蔽包围起来，从而避免了这种危险。 ……
对用于低电平测量的测试夹具有几个重要的要求：
* 绝缘电阻：所有连接器、内部连线、端子和插座等的绝缘电阻都应当尽可能地高。一般地说，在高质量的测试夹具中，所有的连接器和插座都使……
业务压力挑战测试工程师
大多数电子制造商都面临着一些共同的业务问题。全球性的竞争压低了产品价格，但却增加了产品的功能特性；不断缩短的产品生命周期；不断减小的利润率促使制造商竭尽一……
测试应用与设备结构的配合
在面临这些挑战时，生产测试工程师必须彻底纵览ATE前景，寻找新的硬件结构和软件结构，从中找出满足其测试功能所需的最佳选择。当然，根据具体应用选择成本最节……
典型的测试设备结构
当我们在选择生产测试设备时，考虑前面提到的三大类系统是大有裨益的：
u 单机/单通道I-V解决方案
u 并行I-V测试系统
u 可随意组合的多通道系统
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并行I-V测试系统――适用于复杂器件的多个DUT测试或多通道测试的系统。对此类DUT的测试，速度取决于仪器、应用程序以及在施加激励源后DUT达到稳定响应时所需的时间（过早的测量将产……
复杂的DUT可能在测试夹具循环至下一个部件之前要求多次的源激励信号和进行相应的响应信号的测量。缩短测试时间的第一步可通过将单独功能的源－测量仪器转变为集成式的SMU获得。这将减少触……
可降低测试成本的重要参数
在本文的前面，介绍过四个降低测试成本的关键因素：缩短测试时间、缩短开发时间、减少测试设备所占的面积和机架的空间大小以及降低系统的保有成本。每个因素都有许……
