稳定的测试环境是进行准确的低电平测量的基本条件。本节阐述可能影响低电平测量准确度的重要环境因素。
温度和温度稳定性
温度变化能在几个方面影响低电平测量工……
图2-43示出一个交流静电耦合的例子。在导体（例如电缆或印制电路板上的线）附近的静电电压源会产生正比于电荷变化率和耦合电容变化率的电流。该电流可以按下式来计算：
i = C d……
带电物体接近被测电路的输入端时，就会发生静电耦合和干扰。在低阻抗之下，由于电荷迅速消散，所以干扰的影响不明显。然而，高阻材料不允许电荷迅速衰减，就可能产生不稳定的测量结果。由于错误……
为了避免测量误差，关键之点在于将静电计、SMU或皮安计和被测装置进行适当的连接。总是要把仪表的高阻端和被测电路的最高电阻点相连。
图2-39所示为静电计和由电压……
大多数静电计的电荷测量范围可以用外部反馈来扩展。外部反馈模式允许使用外部器件来作静电计的反馈元件。将静电计置于电压模式，然后打开外部反馈，就把反馈电路从内部网络切换到连在前置放大器……
在大多数情况下，使用安培计或皮安计来测量电流。然而，对于飞安级的电流来说，使用静电计的库仑功能测量电荷随时间的变化，然后根据电荷的测量来决定电流可能会更好。
基本……
在测量弱电流时，静电屏蔽（如第2.6.2节所讨论）是降低交流干扰引起的噪声的最常用的方法。然而，在有些情况下，将被测设备或连接电缆屏蔽起来是不实际的。对于这些应用来说，采用一种可变……
如果输入端加入过高的电压，静电计、皮安计和SMU就可能损坏。大多数仪器都有最大允许输入电压的技术指标。在某些应用中，不可避免地会超过这个最大的电压。这类应用可能包括电容器的漏电流、……
安培计可以用电阻为零的理想安培计（IM）和电阻（RM）相串联来表示，如图2-23所示。电流源的戴文宁等效电路为电压源（VS）与源电阻（RS）相串联。当电流源连到安培计的输入端时，其……
测试系统中任何额外产生的电流都会加到被测电流中去而引起误差。这种电流可以在内部产生，如仪器的输入偏置电流；也可以从外部而来，如来自绝缘子和电缆。以下将讨论各种电流产生原因。
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