Figure 2 is a simplified block diagram of a system for testing a single LED. For automatio……
In the past, a PC often controlled all aspects of the test in many LED production test sys……
Leakage Current Tests
Normally, moderate voltage levels (volts to tens of volts) are use……
Optical Tests
Forward current biasing is also used for optical tests because electrical c……
Many tests require sourcing a known current and measuring a voltage; others require sourci……
Visible light emitting diodes (LEDs) combine high efficiency and long lifetimes. Today, th……
在标准R负载测量技术中（如图5所示），一个电阻与DUT串联，通过测量负载电阻上的电压就可以测出流过DUT的电流。采用有源、高阻抗探针和示波器记录负载电阻上的电压。流过DUT的电流等……
开发新的PCM材料并优化器件设计的能力在很大程度上取决于制造商对几个参数进行特征分析的能力：
· 再结晶速率——目前的再结晶速率为几十纳秒……
我们必须仔细选择所用RESET和SET脉冲的电压和电流大小，以产生所需的熔化和再结晶过程。RESET脉冲应该将温度上升到恰好高于熔点，然后使材料迅速冷却形成非晶态。SET脉冲应该将……
PCM器件的工作原理[1]。 简单介绍非晶态与晶态之间的差异有助于我们搞清楚
在非晶态下，GST材料具有短距离的原子能级和较低的自由电子密度，使得其具有较高的电阻率。由于这种状态……
