在测量尺寸较小样本时，样本安装基底可能会成为测量误差的主要来源，这是其体积和表面电阻率造成的。通过（可能被污染的）基底表面阻止漏电流[1]的方法是，使用两个分开的绝缘片，而不是将样……
接触
晶体各向异性的测量通常需要在多个方向对晶体进行接触，与晶体轴[1]平行和垂直。因此，研究人员要求材料在测量时必须能够实现可靠的电子接触，而且测量后必须能够迅速清除，不在样本……
接触
晶体各向异性的测量通常需要在多个方向对晶体进行接触，与晶体轴[1]平行和垂直。因此，研究人员要求材料在测量时必须能够实现可靠的电子接触，而且测量后必须能够迅速清除，不在样本……
我们选择使用6517A型静电计/高阻表作为这些测试配置的测量仪器，因为它能提供飞安级灵敏度，并具有综合可编程的1000V电压源。低噪声三芯同轴转接电缆将静电计[1]连接到测量室(充……
我们选择使用6517A型静电计/高阻表作为这些测试配置的测量仪器，因为它能提供飞安级灵敏度，并具有综合可编程的1000V电压源。低噪声三芯同轴转接电缆将静电计[1]连接到测量室(充……
高值电阻(高达1017W)的常用测量方法是施加恒定电压[1]，然后测量产生的电流。通常，使用的电压越高，测量精度也越高。不过，在小型晶体（尺寸<1mm）上施加的电压电平受到接……
晶体[1]材料是现代电子和光电子技术的基础。因此，这些材料的电子特性，如(各向异性) 电导率和光电导率以及与这些特性有关的温度依存性，都是研究人员关注的问题。采用大量结晶技术的晶体……
有时候，编程人员想要阻止其他用户访问脚本的源代码。在2600系列[1]数据源表中，可以使用二进制发行示例脚本(可以从www.keithley.com网站获得)使得脚本源代码读取困难……
有时候，编程人员想要阻止其他用户访问脚本的源代码。在2600系列[1]数据源表中，可以使用二进制发行示例脚本(可以从www.keithley.com网站获得)使得脚本源代码读取困难……
实施新测试设备成本的一个方面包括从现有稳定的软件程序转向支持新产品。当转向2600A系列数字源表时，这方面的成本将大大减少，因为这些仪表与2600系列数字源表[1]的软件程序几乎是……
