2657A是一种高电压、高功率、低电流源测量单元（SMU），具有迄今为止最高的功率、
精度、速度、灵活性和易用性，能够大大提高研发、生产测试和可靠性环境的测试效
率 2657……
开发IC让它能工作是一回事；
而让它耐用就是另一回事了 A G R E A T E R M E A S U ……
为了提高太阳能电池效率以及匹配分立电池用于电
池板的构建，太阳能电池的开发和生产需要测试大量的
材料和器件 A G R……
从集成电路中数以百万计晶体管到制造高亮度LED的大面积复合结，半导体结可能由于不断产生的热量而在早期发生故障 A G……
传统CMOS工艺缩放技术的发展正逐渐逼近极限，迫切需要采用新材料和新器件设计 A G R E A T E R ……
相变存储器（可缩略表示为PCM、PRAM或PCRAM）是一种新兴的非易失性计算机存储器技术……
本文提出了一种新的可靠的圆片级1/f噪声测量方法和架构 圆片级 1/f 噪声的一种新测量方法
北京大学微电子……
电容-电压（C-V）测试广泛用
于测量半导体参数，尤其是MOSCAP和
MOSFET结构 A G R E A T……
分立电阻器在最后的封装状态要进行单点通过/失败测试，这
对确保产品符合制造商性能指标至关重要，而且可以在出货前
识别劣质电阻器以及轻微不良的电阻器 ……
4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境（KITE）软件 ……
