返回首页 | 论坛 | 问答 | 博客
 

NIDays2010 专题演讲 专题二 自动化测试

运筹帷幄——测试测量平台选型的考虑因素 演讲者:黄睿——NI中国资深应用工程师 改变数据采集命运的未来技术 演讲者:李甫成——NI中国技术市场工程师 构建自动化测试系统实践中的锦囊妙计 演讲者:刘旭阳——北京中科泛华测控……
  如您已是会员?请登录浏览全文
用户名:
密码: 忘记密码?
 
下次是否自动登陆:是    
  第一次访问EEPW?
不要犹豫,注册成EEPWer,视频、文档、白皮书随你看

关于我们 | 广告服务 | 企业会员服务 | 网站地图 | 联系我们 | 友情链接 | 手机EEPW
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
Copyright ©2000-2020 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
京ICP备12027778号-2