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基于 LabVIEW 的图像采集与分析系统设计

薄膜方块电阻(Sheet Resistance)是薄膜材料最重要的电特性参数之一。随着集成电路由超大规模 (VLSI )向甚大规模(ULSI )发展，薄膜方块电阻大小是器件设计和器件制造过程中选择材料、控制工艺条件 的主要依据和决……
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