采用Stratix V 管芯仪表克服高速 I/O 验证难题

采用Stratix V 管芯仪表克服高速 I/O 验证难题

本文档讨论使用Altera 28-nm Stratix ® V 器件的管芯仪表功能(ODI) 来验证和调试高速I/O。依据摩尔定律，I/O 技术在速度和数据速率上每两到三年就会翻倍。随着I/O 速度和数据速率的提高，出现了新的验证……

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