返回首页 | 论坛 | 问答 | 博客
 

STM32H7 SPI NSS功能的灵活应用案例

某客户开发一款高精度工业测量仪器，打算使用 STM32H7+外置高精度 ADC 采样的分离方案来实现。客户选取了一款所属行业内比较通用的 ADC 采样芯片。在读取该 ADC芯片手册后，客户发现该款 ADC 采样芯片使用 MCU 标……
  如您已是会员？请登录浏览全文
用户名：
密码： 忘记密码？
 
下次是否自动登陆：是    否
  第一次访问EEPW？
不要犹豫，注册成EEPWer，视频、文档、白皮书随你看

关于我们 | 广告服务 | 企业会员服务 | 网站地图 | 联系我们 | 友情链接 | 手机EEPW
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
Copyright ©2000-2020 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
京ICP备12027778号-2