CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测

CMOS集成电路潜在缺陷的最小电压检测

有潜在问题的芯片在正常的条件下缺陷不会显现出来，但是在一定的条件下会产者间歇性失效，从而造成芯片早期失效的质量问题。最小电压是芯片正常运行所需电压值，合格芯片与不合格芯片的最小电压值是不一样的，因此利用最小电压检测 ……

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