返回首页 | 论坛 | 问答 | 博客
 

基于边界扫描技术的数字系统测试研究

介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法.针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行……
  如您已是会员？请登录浏览全文
用户名：
密码： 忘记密码？
 
下次是否自动登陆：是    否
  第一次访问EEPW？
不要犹豫，注册成EEPWer，视频、文档、白皮书随你看

关于我们 | 广告服务 | 企业会员服务 | 网站地图 | 联系我们 | 友情链接 | 手机EEPW
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
Copyright ©2000-2020 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
京ICP备12027778号-2