安泰测试设备

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今日你签到了吗?论坛动态

来自 论坛2019-10-15 17:11

测量雷达应用中高端信号源的相位噪声

1、简介 信号源质量是先进雷达应用中性能的主要驱动力。相位噪声越低,意味着空间分辨率越好,对移动物体的速度读取越准确。要测量这些信号源在脉冲模式下的相位噪声并改善性能,开……
来自 论坛2019-10-12 09:41

复杂电磁环境中信号采集与回放

 简介伴随各种无线通信技术的发展,越来越多的无线电设备应用在实际工作中。而对于无线设备相互之间的工作兼容性问题,出现的问题通常不持续发生,具有偶发特性,不容易复现问题,难……
来自 论坛2019-10-10 14:23

Agitek维修西安某高校安捷伦频谱分析仪N9030A案例分享

近期西安某高校送修一台安捷伦N9030A频谱分析仪,客户报修仪器开机报错,下面跟着安泰维修中心的工程师一起来看看频谱分析仪是如何维修的。一、 型号:安捷伦N9030A频谱……
来自 论坛2019-09-29 15:23

半导体器件C-V特性测试方案

交流C-V测试可以揭示材料的氧化层厚度,晶圆工艺的界面陷阱密度,掺杂浓度,掺杂分布以及载流子寿命等,通常使用交流C-V测试方式来评估新工艺,材料, 器件以及电路的质量和可靠性等。比……
来自 论坛2019-09-27 16:17

半导体电阻率测试方案

系统背景电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种,其中四探针法具有设备简单、操作方便、测……
来自 论坛2019-09-26 10:13

福禄克热像仪的研发应用领域

福禄克提供的红外热像仪具备许多类型的研发应用不可或缺的特性需求,从而实现所有这些功能。高分辨率加上可选的微距镜头,可以提供近距离的成像需求,生成非常详细且信息充分的图像,实现每个像……
来自 论坛2019-09-25 15:24

半导体分立器件I-V特性测试方案

半导体分立器件是组成集成电路的基础,包含大量的 双端口或三端口器件,如二极管,晶体管,场效应管等。 直流I-V测试则是表征微电子器件、工艺及材料特性的 基石。通常使用I-V特性分析……
来自 论坛2019-09-24 09:55

物联网应用方案——设备低功耗直流特性测试方案

一、系统背景  随着物联网推广的深入,万物互联必将成为未来的发展方向。诸如 NB-IOT,LoRa,BLE 等低功耗物联网解决方案会越来越多的应用在产品设计上。……
来自 论坛2019-09-17 15:16

Agitek-某高校新能源汽车工程测试方案搭建案例

为大力发展新能源交通运载技术,应客户要求安泰为某高校搭建测试方案如下:1. 综合性大学新能源汽车工程中心方案MSO2024B+DMM6500+2231A-30-3+AFG……
来自 论坛2019-09-11 15:48

电力电子测试技术创新实验平台

梳理产业结构,将现代测试案例和测试手段带入学校实验      电气工程测试平台搭建的意义为未来电力电子行业培养新一代的测……
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