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今日你签到了吗?论坛动态

来自 论坛2005-12-22 20:57

下一代NSE架构面向Ipv6应用过渡

随着互联网用户数量不断增长以及对互联网应用的要求不断提高,IPv6正成为数据通信产业的一个技术亮点。IPv6不但可以解决地址空间耗尽和路由表爆炸等问题,更具有高度的灵活性、更……
来自 论坛2005-12-22 20:55

Intel65nm工艺成熟寻获漏电流解决办法

Intel即将推出一系列基于65nm工艺的处理器,这已经是公开的秘密。65nm的工艺使得Intel可以在一片晶圆中制造出更多的处理器,随之而来的是产能、效率以及利润的增长。当……
来自 论坛2005-12-20 20:43

波导手机数据线采用Silicon Labs的USB微控制器

Silicon Laboratories日前宣布,宁波波导科技的子公司――重庆波导科技公司已采用它的CP2101,并将这颗USB至UART桥接控制器用于该公司新开发的手机数据传……
来自 论坛2005-12-20 20:43

王阳元:中科院正进行45纳米工艺开发

日前在北京举行的中芯国际12英寸晶圆厂开业典礼上,中芯国际北京公司董事长兼中国科学院院士王阳元透露,中国科学院已开始进行45纳米工艺开发。 王阳元表示,在中芯国际的12英寸……
来自 论坛2005-12-16 16:29

应对百万门级系统级芯片验证挑战的可扩展解决方案

功能验证是电子设计人员目前面临的主要挑战,无论是设计团队还是验证团队,都将超过50%的时间用在纠错上,因此这一领域的技术进展将对缩短产品上市时间产生重大影响。本文探讨基于断言的……
来自 论坛2005-12-16 16:28

改善数据采集测量结果的四种常用校正方法

改善测量结果需要进行配置、校准以及优秀的软件开发技术。本文旨在使您了解优化测量结果的软、硬件技巧,内容包括:选择并配置数据采集设备、补偿测量误差以及采用优秀的软件技术。 当……
来自 论坛2005-12-15 16:54

高可用性系统的硬件和软件设计模式

嵌入式系统设计人员经常需要实现那些能在99.999%的业务时间内可靠运行的系统,这意味着一天内系统故障的时间将少于一秒。这些系统称为高可用性系统。高可用性系统的设计通过对冗余硬……
来自 论坛2005-12-15 16:53

Post-layout分析应对纳米设计挑战

在当今竞争日益激烈的国际市场,设计高端IC面临着前所未有的压力:既要能够发布一次投片成功的设计,又要面临十分严酷的既定日程。虽然工艺技术快速发展到130纳米甚至更小,但设计者们……
来自 论坛2005-12-13 19:16

确定助焊剂残余物的探针可测性

线路板完成焊接后焊点周围会有很多助焊剂残余物,这些残余物不仅影响美观,更为严重的是在探针对焊点进行测试时它会阻碍探针与焊点的接触。本文介绍一种用精确测量探针与焊盘之间电性阻抗的……
来自 论坛2005-12-13 19:16

对蓝牙产品开发成败有重要影响的关键测试技术规范

随着蓝牙技术从设想到实用,开发过程中发生了很多的变化,测试工作成为蓝牙产品开发过程不可分割的一部分,实际上,恰当的测试技术可能是决定蓝牙方案成败的关键,本文介绍了载波频率、漂移……
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