CMOS集成电路（CMOS IC）和电池供电产品的制造商需要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的……
——为台式应用而优化拓展数字源表(SourceMeter®)源测量单元(SMU)系列产品
2600B系列数字源表提供的崭新特性将有效提高从研发到量……
这款5位半数字多用表(DMM)具备6位半数字多用表(DMM)的测量能力，而且性价比更高
美国俄亥俄州克里夫兰，2012年09月17日讯--吉时利仪器公司，作为先进……
多器件TDDB和NBTI
图4示出了多器件TDDB测试结构的共用 SMU和SMU-per-pin配置。在开关（共用SMU） 情况下，SMU1提供连续应力至测试序列的全 部结构，……
图1. 采用SMU-per-pin（每管脚SMU）架构的ACS集成 测试系统举例
引言
随着器件继续小型化，半导体器件可 靠性测试以……
直接将ACS安装至4200-SCS的嵌入式PC中能让功能强大 的ACS集成测试系统兼有两者优点。小尺寸但功能强大的 4200-SCS测量硬件结合了ACS软件的全自动化特性，能在极小……
引言
随着面市时间和测试成本的压力增大，需要继续仔细检查 工具利用率和测试工程师的生产率。提高自动化水平是一种改善资源分配常规方法。从手动探测器的单管芯测试到半自动探 测器的单……
系统架构
最容易想到的多站点测试仪是迷你测 试仪系统。每台迷你测试仪包含了在一个站点上运行一系列测试所需的全部资源。 图3示出了两台迷你测试仪组成的系统。每台迷你测试仪含有几个……
图1. 此例中的ACS集成测试系统配置为并行、多站点测试，非常适于这些应用：• 多站点参数管芯分选• 多站点晶圆级可靠性测试• 多站点……
仅监测ID的OTF方法
一种常用的OTF方法是仅监测漏极电流。这种方法在漏极施加小偏压（通常为25～100mV）并连续进行漏极电 流测量，如图1所示。在此方法中，连续的采样速率……
