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双扫描使能低功率触发设计,限制SoC的移位模式中的功耗(2012-100例)

所有的SoC使用扫描链来检测设计中是否存在任何制造缺陷。扫描链是专为测试而设计的,以串联方式按顺序连接芯片的时序单元。随着越来越多的功能被集成在SoC中,SoC中的触发器(时序单元)和组合逻辑的总数量不断增加。
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