返回首页 | 论坛 | 问答 | 博客
 

提高早期设计周期的 LVS 验证效率

利用创新的 Calibre® nmLVS-Recon™ 早期验证工具，设计人员可以在早期设计阶段对模块、宏和芯片运行针对性的短路隔离分析和调试。Calibre nmLVS-Recon 短路隔离使用模型专注于实现快速、高效、优先的短……
  如您已是会员？请登录浏览全文
用户名：
密码： 忘记密码？
 
下次是否自动登陆：是    否
  第一次访问EEPW？
不要犹豫，注册成EEPWer，视频、文档、白皮书随你看

关于我们 | 广告服务 | 企业会员服务 | 网站地图 | 联系我们 | 友情链接 | 手机EEPW
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
Copyright ©2000-2020 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
京ICP备12027778号-2